A63.7081 Schottky-kenttäpäästöaseiden pyyhkäisyelektronimikroskooppi Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Lyhyt kuvaus:

15x ~ 800000x Schottky -kenttäpistoolin pyyhkäisyelektronimikroskooppi
E-säteen kiihtyvyys vakaan palkkivirran avulla tuottaa erinomaisen kuvan matalalla jännitteellä
Johtamaton näyte voidaan havaita suoraan, eikä sitä tarvitse roiskia matalassa jännitteessä
Helppo ja ystävällinen käyttöliittymä, jota kaikki ohjaavat hiiri Windows-järjestelmässä
Suuri näytetila, jossa on viisi akselia eukentrinen moottoroitu vaihe, suuri näyte, halkaisija 320 mm
Vähimmäistilausmäärä:1

Tuotetiedot

Tuotteen tunnisteet

A63.7081_01.jpg

Tuotteen Kuvaus

A63.7081 Schottky-kenttäpäästöase Pyyhkäisyelektronimikroskooppi Pro FEG SEM
Resoluutio		1 nm @ 30 KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Suurennus		15x ~ 800000x
Elektronitykki		Schottky-päästöelektronipistooli
Elektronisäteen virta		10 pA ~ 0,3 μA
Voatagen nopeuttaminen		0 ~ 30KV
Tyhjiöjärjestelmä		2 ionipumppua, turbomolekyylipumppu, mekaaninen pumppu
Ilmaisin		SE: Suurityhjiöinen sekundäärielektroni-ilmaisin (ilmaisinsuojauksella)
		BSE: Puolijohdeinen neljän segmentin takaisinsirontatunnistin
		CCD
Näytteen vaihe		Viisi akselia eukentrinen moottorivaihe
Matka-alue	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5 ° ~ 75 °
Näytteen enimmäishalkaisija		320mm
Muutos		EBL; STM; AFM; Lämmitysvaihe; Kryo-vaihe; Vetovaihe; Mikro-nanomanipulaattori; SEM + pinnoituskone; SEM + Laser jne.
Lisätarvikkeet		Röntgentunnistin (EDS), EBSD, CL, WDS, pinnoituskone jne.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Etu ja tapaukset

Pyyhkäisyelektronimikroskopia (sem) soveltuu metallien, keramiikan, puolijohteiden, mineraalien, biologian, polymeerien, komposiittien ja nanomittakaavan yksiulotteisten, kaksiulotteisten ja kolmiulotteisten materiaalien (sekundaarielektroni, Sitä voidaan käyttää analysoimaan mikroalueiden piste-, viiva- ja pintakomponentteja.Sitä käytetään laajalti öljy-, geologia-, mineraalikentässä, elektroniikassa, puolijohdekentässä, lääketieteessä, biologian kentässä, kemianteollisuudessa, polymeerimateriaalikentässä, yleisen turvallisuuden, maatalouden, metsätalouden ja muiden alojen rikostutkinta.